德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀

德國FISCHER XDLM 237 X射線熒光鍍層測厚材料分析儀技術(shù)參數(shù)：

1、工作臺：

設(shè)計(jì)：馬達(dá)驅(qū)動可編程X/Y平臺

移動范圍：255x 235mm

X/Y平臺移動速度：≤80 mm/s

X/Y平臺移動重復(fù)精度：≤0.01 mm，單向

可用樣品放置區(qū)域：300 x 350mm

Z軸：可編程運(yùn)行

Z軸移動范圍：140mm

樣品:重量5kg，降低精度可達(dá)20kg

樣品:高度140mm

2、環(huán)境要求：

使用時(shí)溫度：10℃- 40℃

存儲或運(yùn)輸溫度：0℃ - 50℃

空氣相對濕度：≤95%,無結(jié)露

3、計(jì)算單元：

計(jì)算機(jī)：帶擴(kuò)展卡的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)

軟件：標(biāo)準(zhǔn):WinFTM V.6 LIGHT、可選:WinFTM V.6 BASIC，PDM，SUPER

4、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

CE合格標(biāo)準(zhǔn)：EN 61010

X射線標(biāo)準(zhǔn)：DIN ISO 3497和ASTM B 568

型式批準(zhǔn)：型式許可符合德國"Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)規(guī)定。

5、通用規(guī)格：

設(shè)計(jì)用途：能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(EDXRF)用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。

元素范圍：從元素氯(17)到鈾(92)，配有可選的WinFTM BASIC軟件時(shí)，可同時(shí)測定24種元素。

形式設(shè)計(jì)：臺式儀器，測量門向上開啟

測量方向：從上到下

6、X射線探測：

X射線接收器：比例接收器

測量距離：0 ~ 80mm，使用專有保護(hù)的DCM測量距離補(bǔ)償法

7、視頻系統(tǒng)：

視頻系統(tǒng)：

CCD彩色攝像頭，沿著初級×射線光束方向觀察測量位置對被測工件進(jìn)行監(jiān)控，可自動對焦或手動聚焦

十字線(帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸)可調(diào)節(jié)亮度的LED照明，激光光點(diǎn)用于定位樣品

放大倍數(shù)：40x-160x

8、電氣參數(shù)：

電源要求：交流220v 50Hz

功率：120W(不包括計(jì)算機(jī))

保護(hù)等級：IP40

9、尺寸規(guī)格：

外部尺寸：寬×深×高[mm]:570 x760 x 650

內(nèi)部測量室尺寸：寬×深×高[mm]: 460 x 495 x 146

重量：120kg